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序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
1 | 3681416 | ![]() |
NCFP | 2003-08-20 | 光学玻璃;表面覆有带电导体的玻璃 | 查看详情 |
序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
1 | TWI228175 | 玻璃基板检测设备以及玻璃基板检测设备的操作方法 | 2005.02.21 | 本发明系提供一种玻璃基板检测设备以及玻璃基板检测设备的操作方法。该玻璃基板检测设备系于一检测端来检测 |
2 | TW200637800 | 玻璃基板之组合物 | 2006.11.01 | 一种低耗能高应变点的无硷玻璃基板之组合物,该玻璃基板系不含硷金属氧化物以及氧化钡,其熔解温度不超过摄 |
3 | TW200637798 | 保护玻璃基板之材料以及方法 | 2006.11.01 | 一种保护玻璃基板之水可溶材料以及方法,系先涂布或浸润一硼化合物水溶液之材料于该玻璃基板表面,使该硼化 |
4 | CN2687031Y | 玻璃基板整理机构 | 2005.03.23 | 一种玻璃基板整理机构,用以套接一基板收容箱的箱口,藉以包覆露出基板收容箱的玻璃基板上部,该玻璃基板整 |
5 | TW200426123 | 用以制造玻璃基板之组成物 | 2004.12.01 | 本发明系提供一种用以制造玻璃基板之组成物,该组成物包含二氧化矽(SiO2),重量百分比系介于55%至 |
6 | TW200426122 | 结合矽基板与玻璃基板的设备与方法 | 2004.12.01 | 本发明系提供一种设备与方法,系用以结合一矽基板以及一玻璃基板。该设备包含一阴极电极、以及一导体重物。 |
7 | TW200414964 | 用以精研玻璃基板之玻璃研磨设备以及玻璃研磨方法 | 2004.08.16 | 本发明系提供一种玻璃研磨设备以及玻璃研磨方法,用以精研一玻璃基板。该玻璃研磨设备包含一玻璃研磨盘用以 |
8 | TW200742739 | 窑炉之进料方法及其液位之侦测方法 | 2007.11.16 | 一种窑炉内液位侦测方法,包括下列步骤,首先,利用一取像装置对窑炉之内炉壁与液面进行取像,以产生一图像 |
9 | TWI289661 | 高温熔融玻璃液滴之表面张力测量方法 | 2007.11.11 | 本发明系关于一种测量高温熔融状态之玻璃液滴之表面张力的方法,尤指一熔融悬垂玻璃液滴的形状被摄影,藉由 |
10 | TW200728224 | 用以搅动熔融玻璃之搅拌装置 | 2007.08.01 | 一种用以搅动熔融玻璃之搅拌装置,系以一搅拌槽收容自进料管进入且尚未从出料管流出之熔融玻璃。将一转轴伸 |
11 | TW200728703 | 高温熔融玻璃液滴之表面张力测量方法 | 2007.08.01 | 本发明系关于一种测量高温熔融状态之玻璃液滴之表面张力的方法,尤指一熔融悬垂玻璃液滴的形状被摄影,藉由 |
12 | TW200702309 | 用于玻璃成形设备中之流速控制装置以及流速控制方法 | 2007.01.16 | 一种用于玻璃成形设备中之流速控制装置,该玻璃成形设备并包含一输送管,于该输送管中系以输送玻璃熔融液。 |
13 | CN1283574C | 平面显示器用的基板玻璃 | 2006.11.08 | 一种具有高比杨氏模数(high specific Young′s modulus)可大于31.0×1 |
14 | CN1253390C | 制造材料的薄板状流体的溢流成型系统 | 2006.04.26 | 一种制造材料的薄板状流体的溢流成型系统,使该薄板状流体具有一预定厚度。该溢流成型系统利用一进料装置持 |
15 | TWI252218 | 熔融玻璃进流装置 | 2006.04.01 | 一种用以输送熔融玻璃之进流装置,包含横向进料管、进料斗、下料管、以及至少一导料管。进料斗藉由侧面之开 |
16 | CN1243215C | 非接触式的流体厚度检测系统以及方法 | 2006.02.22 | 本发明提供一种制造玻璃基板的非接触式的流体厚度检测系统,用来测量一溢流成型系统中预定位置的流体厚度。 |
17 | TWI245025 | 复合膜窗 | 2005.12.11 | 一种复合膜窗,该复合膜窗包含一玻璃基板、一第一二氧化钛层、一第二二氧化钛层、以及一二氧化钒层。于玻璃 |
18 | TWI245026 | 用以制造玻璃基板之组成物 | 2005.12.11 | 本发明系提供一种用以制造玻璃基板之组成物,该组成物包含二氧化矽(SiO2),重量百分比系介于55%至 |
19 | CN2724918Y | 研磨装置 | 2005.09.14 | 一种研磨装置,它包含有一挟持装置、一旋转座及一研磨部件;挟持装置吸附挟持同心圆玻璃基板;研磨部件设置 |
20 | TWI237623 | 薄板玻璃钻孔方法 | 2005.08.11 | 一种薄板玻璃钻孔方法,藉由一环状钻头钻透薄板玻璃以形成一孔洞。该钻孔方法包含下列步骤:固定该薄板玻璃 |
21 | TW200519056 | 薄板玻璃钻孔方法 | 2005.06.16 | 一种薄板玻璃钻孔方法,藉由一环状钻头钻透薄板玻璃以形成一孔洞。该钻孔方法包含下列步骤:固定该薄板玻璃 |
22 | TWM267019 | 用以研磨同心圆玻璃基板之研磨装置 | 2005.06.11 | 一种用以研磨同心圆玻璃基板之研磨装置。利用一挟持装置以吸附挟持该同心圆玻璃基板。一研磨部件设置于一旋 |
23 | TW200515090 | 量测玻璃基板缺陷位置的装置 | 2005.05.01 | 一种用以量测玻璃基板缺陷位置之装置,该装置利用一屏幕以显示所投影之影像。一尺标用以于屏幕上显示量测之 |
24 | TW200514756 | 熔融玻璃进流装置 | 2005.05.01 | 一种用以输送熔融玻璃之进流装置,包含横向进料管、进料斗、下料管、以及至少一导料管。进料斗藉由侧面之开 |
25 | CN1608800A | 用于精研玻璃基板的玻璃研磨设备及玻璃研磨方法 | 2005.04.27 | 本发明公开了一种用于精研玻璃基板的玻璃研磨设备及玻璃研磨方法,其中玻璃研磨设备包含一用于放置玻璃基板 |
26 | TWI230145 | 平面显示器用之基板玻璃组成物 | 2005.04.01 | 一种具有高比杨氏模数(high specific Young's modulus)可大于31.0×1 |
27 | TW200510258 | 复合膜窗 | 2005.03.16 | 一种复合膜窗,该复合膜窗包含一玻璃基板、一第一二氧化钛层、一第二二氧化钛层、以及一二氧化钒层。于玻璃 |
28 | CN1594158A | 用以制造玻璃基板的组成物 | 2005.03.16 | 一种用以制造玻璃基板的组成物,它包括在二氧化硅为主要成分中含有以重量百分比计的三氧化二钇0.01-1 |
29 | CN1595055A | 非接触式的流体厚度检测系统以及方法 | 2005.03.16 | 本发明是提供一种制造玻璃基板的非接触式的流体厚度检测系统,是用以测量一溢流成型系统中预定位置的流体厚 |
30 | CN1590990A | 玻璃基板检测系统及其操作方法 | 2005.03.09 | 一种玻璃基板检测系统及其操作方法。为提供一种检测效果可靠、检测效率高、占空间少的玻璃的检测装置及其操 |
31 | CN2683547Y | 玻璃基板整理装置 | 2005.03.09 | 一种玻璃基板整理装置,包含一平台、一固定设置于平台表面的定位部件、一侧面紧靠定位部件的第一夹板与第二 |
32 | CN1587130A | 制造材料的薄板状流体的溢流成型系统 | 2005.03.02 | 一种制造材料的薄板状流体的溢流成型系统,使该薄板状流体具有一预定厚度。该溢流成型系统利用一进料装置持 |
33 | TWM258099 | 非接触式玻璃制造装置 | 2005.03.01 | 一种非接触式玻璃制造装置,利用分别设置于平板玻璃之前后二端部向下移动必经处之二玻璃成型装置,使该前后 |
34 | TW200426359 | 玻璃基板检测设备以及方法 | 2004.12.01 | 本发明系提供一种玻璃基板检测设备以及方法,该玻璃基板检测设备系用以检测一玻璃基板之瑕疵。该玻璃基板检 |
35 | TW200426355 | 玻璃基板检测设备以及玻璃基板检测设备的操作方法 | 2004.12.01 | 本发明系提供一种玻璃基板检测设备以及玻璃基板检测设备的操作方法。该玻璃基板检测设备系于一检测端来检测 |
36 | TWM250792 | 钻孔装置 | 2004.11.21 | 一种钻孔装置,系用来钻透一薄板玻璃。该钻孔装置包含一钻管、以及一环形钻头。钻管之一端系连接于一动力装 |
37 | TWM249933 | 玻璃基板整理机构 | 2004.11.11 | 一种玻璃基板整理机构,用以套接一玻璃基板收容箱之箱口,藉以包覆露出玻璃基板收容箱之玻璃基板上部。玻璃 |
38 | TWM249932 | 玻璃基板整理装置 | 2004.11.11 | 一种玻璃基板整理装置,包含一平台、一固定设置于平台表面表面之定位部件、一侧面紧靠定位部件之第一夹板与 |
39 | TW200418736 | 制造薄板之装置及方法 | 2004.10.01 | 本发明系提供一种用于制造一玻璃基板之系统,该系统用以产生一薄板状流体,该薄板状流体系具有一预定厚度分 |
40 | TWI221520 | 玻璃基板检测设备以及方法 | 2004.10.01 | 本发明系提供一种玻璃基板检测设备以及方法,该玻璃基板检测设备系用以检测一玻璃基板之瑕疵。该玻璃基板检 |
41 | TW200417717 | 非接触式之流体厚度检测系统以及方法 | 2004.09.16 | 本发明系提供一种制造玻璃基板之非接触式之流体厚度检测系统以及方法,系用以测量一溢流成型系统中预定位置 |
42 | TW592886 | 用以精研玻璃基板之玻璃研磨设备以及玻璃研磨方法 | 2004.06.21 | 本发明系提供一种玻璃研磨设备以及玻璃研磨方法,用以精研一玻璃基板。该玻璃研磨设备包含一玻璃研磨盘用以 |
43 | TW593175 | 制造薄板之装置及方法 | 2004.06.21 | 本发明系提供一种用于制造一玻璃基板之系统,该系统用以产生一薄板状流体,该薄板状流体系具有一预定厚度分 |
44 | TW584711 | 非接触式之流体厚度检测系统以及方法 | 2004.04.21 | 本发明系提供一种制造玻璃基板之非接触式之流体厚度检测系统以及方法,系用以测量一溢流成型系统中预定位置 |
45 | CN1450010A | 光学玻璃 | 2003.10.22 | 一种以硅酸基为主体的光学玻璃,具有高膨胀系数、高杨氏模量、优良的耐候性且在红外光波区域有高透过率。此 |
46 | CN1445187A | 平面显示器用的基板玻璃组成物 | 2003.10.01 | 一种具有高比杨氏模数(high specific Young′smodulus)可大于31.0×10 |
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